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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
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美國狄夫斯高 Defelsko
美國Fluke 福祿克
美國Mark-10測力計
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機械設備
北京時代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統
XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。
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菲希爾測厚儀
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